Ytanalys
Vid produktionsstörningar är det viktigt att snabbt hitta orsaken till problemet. Ofta är en kombination av ytkemiska analyser och mikroskopi kraftfulla verktyg för att ringa in orsaken.Kontakta någon av oss för val av rätt analysteknik:
Magnus Palm,
magnus.palm@sp.se, 010-516 53 42
Peter Sjövall,
peter.sjovall@sp.se, 010-516 52 99
Anders Larsson,
anders.larsson@yki.se,
010-516 60 60
Vet du redan vilken teknik som skall användas, se kontaktpersoner nedan:
ESCA
- För grundämnesanalys i färgens luftgränsyta.
- Vertikal mapping av grundämneskomposition genom analys av lacktvärsnitt (mikrotomerade).
Kontaktperson: Marie Ernstsson, marie.ernstsson@yki.se, 010-516 60 43
TOF-SIMS
- Ett extremt ytkänsligt instrument som detekterar både grundämnen och kemiska föreningar.
- Fördelningen av olika ämnen på ytan, s.k. mapping, med en upplösning av mindre än en mikrometer.
Kontaktperson: Peter Sjövall, peter.sjovall@sp.se, 010-516 52 99
Ljusmikroskopi
- Ger en 2-dimensionell bild av ytan (maximalt 100x förstoring).
Kontaktperson: Anders Larsson, anders.larsson@yki.se, 010-516 60 60
Profilometri
- Ger en 3-dimensionell topografisk bild av ytan. Vertikal upplösning är ca 1 nm och lateral upplösning är ca 1 mikrometer. Provstorlek upp till 1 cm x 1 cm.
Kontaktperson: Anders Larsson, anders.larsson@yki.se, 010-516 60 60
Elektron-mikroskopi, ESEM-EDX, SEM-EDX
- Ger bilder som visar yttopografin med mycket hög upplösning och skärpedjup.
- Punktanalys av grundämnessammansättning kan göras med EDX detektorn.
- Plastytor och lacker kan studeras utan metallsputtring via låg-vakuum eller ESEM.
Kontaktperson: Anders Larsson, anders.larsson@surfchem.kth.se, 010-516 60 60
AFM
- Ger en 3-dimensionell topografisk bild på små ytor 10 mm x 10 mm.
- Användbar för att karaktärisera migration av komponenter med låg molekylärvikt till ytan.
Kontaktperson: Anders Larsson, anders.larsson@yki.se, 010-516 60 60
FT-IR
- Med ATR-tillsats (Attenuated Total Reflection) analyseras ett ytskikt på några få mikrometer.
Kontaktperson: Kenneth Möller, kenneth.moller@sp.se, 010-516 51 88
UV-VIS-NIR
- Ger information om transmittans, absorbans och reflektans i våglängdsområdet 200-2500 nanometer.
Kontaktperson: Kenneth Möller, kenneth.moller@sp.se, 010-516 51 88
ICP-MS
- Med laser-ablationsteknik kan ytors grundämnesinnehåll analyseras med mycket stor känslighet.
Kontaktperson: Conny Haraldsson, conny.haraldsson@sp.se, 010-516 56 65