Ytanalys

Vid produktionsstörningar är det viktigt att snabbt hitta orsaken till problemet. Ofta är en kombination av ytkemiska analyser och mikroskopi kraftfulla verktyg för att ringa in orsaken.

Kontakta någon av oss för val av rätt analysteknik:

Peter Sjövall,
peter.sjovall@ri.se, 010-516 52 99

Anders Larsson,
anders.larsson@ri.se,
010-516 60 60

Lena Lindman,
lena.lindman@ri.se
010-516 54 31

 

Vet du redan vilken teknik som skall användas, se kontaktpersoner nedan:

ESCA
  • För grundämnesanalys i färgens luftgränsyta.
  • Vertikal mapping av grundämneskomposition genom analys av lacktvärsnitt (mikrotomerade).

Kontaktperson: Marie Ernstsson, marie.ernstsson@ri.se, 010-516 60 43

TOF-SIMS
  • Ett extremt ytkänsligt instrument som detekterar både grundämnen och kemiska föreningar.
  • Fördelningen av olika ämnen på ytan, s.k. mapping, med en upplösning av mindre än en mikrometer.

Kontaktperson: Peter Sjövall, peter.sjovall@ri.se, 010-516 52 99

Ljusmikroskopi
  • Ger en 2-dimensionell bild av ytan.

Kontaktperson: Anders Larsson, anders.larsson@ri.se, 010-516 60 60

Profilometri
  • Ger en 3-dimensionell topografisk bild av ytan. Vertikal upplösning är ca 1 nm och lateral upplösning är ca 1 mikrometer. Provstorlek upp till 1 cm x 1 cm.

Kontaktperson: Anders Larsson, anders.larsson@ri.se, 010-516 60 60

Elektron-mikroskopi, ESEM-EDX, SEM-EDX
  • Ger bilder som visar yttopografin med mycket hög upplösning och skärpedjup.
  • Punktanalys av grundämnessammansättning kan göras med EDX detektorn.
  • Plastytor och lacker kan studeras utan metallsputtring via låg-vakuum eller ESEM.

Kontaktpersoner: Lena Lindman, lena.lindman@ri.se, 010-516 54 31 och Anders Larsson, anders.larsson@ri.se, 010-516 60 60

AFM
  • Ger en 3-dimensionell topografisk bild på små ytor 10 mm x 10 mm.
  • Användbar för att karaktärisera migration av komponenter med låg molekylärvikt till ytan.

Kontaktperson: Anders Larsson, anders.larsson@ri.se, 010-516 60 60

FT-IR
  • Med ATR-tillsats (Attenuated Total Reflection) analyseras ett ytskikt på några få mikrometer.

Kontaktperson: Anders Lorén, anders.loren@ri.se010-516 53 04

UV-VIS-NIR
  • Ger information om transmittans, absorbans och reflektans i våglängdsområdet 200-2500 nanometer. 

Kontaktperson: Anders Lorén, anders.loren@ri.se010-516 53 04

ICP-MS
  • Med laser-ablationsteknik kan ytors grundämnesinnehåll analyseras med mycket stor känslighet. 

Kontaktperson: Conny Haraldsson, conny.haraldsson@ri.se010-516 56 65

RISE Research Institutes of Sweden, Tel 010-516 50 00, E-post info@ri.se

SP, Innventia och Swedish ICT har gått samman i RISE för att bli en starkare forsknings- och innovationspartner för näringsliv och samhälle.
Under 2017 kommer sp.se att vara en av flera webbplatser inom RISE. Besök gärna ri.se för mer information om RISE.