Materialanalys på nanometernivå

Utvecklingen inom nanotekniken ställer ökade krav på rumslig upplösning hos de metoder som används för att karakterisera material.

Inom delprojektet utvecklas kompetens kring materialkarakterisering med analystekniker som har en rumslig upplösning på nanometernivå. Arbetet fokuseras på tekniken time-of-flight secondary ion mass spektrometry (ToF-SIMS) och dess tillämpningar på tunna (1-100 nm) filmer och ytbundna (adsorberade) molekyler.

Ett område som växer starkt är tillämpningar inom biologi (analys av modellsystem, celler och vävnader).

Vi arbetar också med högupplösande SEM för karakterisering av strukturer och ytor på nanometernivå, bl.a. polymera nanokompositer.

Medicinteknik

Bioteknik är ett samlingsbegrepp för teknologier för att kartlägga, utnyttja eller efterhärma biologiska strukturer och processer.Läs mer...

Mätteknik inom nanoteknologi

Spårbar mätteknik inom nanoteknologi bedöms vara ett viktigt tillväxtområde där RISE har en bred kompetens. Läs mer...

Mätteknisk forskning

Vi bedriver forskning såväl på nationell som på internationell nivå där syftet är att finna tillämpade lösningar och stödja utvecklingen inom det mättekniska området för våra kunder. Läs mer...
RISE Research Institutes of Sweden, Tel 010-516 50 00, E-post info@ri.se

SP, Innventia och Swedish ICT har gått samman i RISE för att bli en starkare forsknings- och innovationspartner för näringsliv och samhälle.
Under 2017 kommer sp.se att vara en av flera webbplatser inom RISE. Besök gärna ri.se för mer information om RISE.

Dela den här sidan: