Materialanalys på nanometernivå
Utvecklingen inom nanotekniken ställer ökade krav på rumslig upplösning hos de metoder som används för att karakterisera material.
Inom delprojektet utvecklas kompetens kring materialkarakterisering med analystekniker som har en rumslig upplösning på nanometernivå. Arbetet fokuseras på tekniken time-of-flight secondary ion mass spektrometry (ToF-SIMS) och dess tillämpningar på tunna (1-100 nm) filmer och ytbundna (adsorberade) molekyler.
Ett område som växer starkt är tillämpningar inom biologi (analys av modellsystem, celler och vävnader).
Vi arbetar också med högupplösande SEM för karakterisering av strukturer och ytor på nanometernivå, bl.a. polymera nanokompositer.